Матричный спектроскопический эллипсометр для структуры полупроводниковой пленки и периодической Наноструктуры
Пока нет отзывов
Другие рекомендации для вашего бизнеса
Основные характеристики
Другие характеристики
По индивидуальному заказу для поддержки
OEM
Происхождение товара
Henan, China
Электропитание
Электронный
Гарантированность
1 год
Наименование
CYKY
Модели
CY-SE-L
Эллиптические параметры
Psi: 0-90 °, Дельта: -90-270 °
Диапазон длины волны источника света
380-1000 нм
380-1000 нм
Диаметр 200 мкм
Время измерения
<15s
Измерительный угол
45-90 °
Функция поиска фокуса
0-20 мм, автоматическая фокусировка
Точность повторяемости толщины пленки
Лучше, чем 0005 нм
Точность деполяризации
± 0.5%
Название продукта
Спектроскопический эллипсометр
Ключевое слово
Эллипсометр для анализа толщины пленки
Срок выполнения заказа
Описание товара от поставщика
Минимальный объем заказа: 1 компл.
7 369 600,00-10 133 200,00 ₽Варианты
Выбрать сейчасПрименение(2)
Анализ толщины пленки
Структура полупроводниковой пленки
Транспортировка
Транспортные решения для выбранного количества в настоящее время недоступны
Защита для этого товара
Безопасные платежи
Каждый ваш платеж на Alibaba.com защищен с помощью надежного SSL-шифрования и протоколов защиты данных PCI DSS
Политика возврата средств и Easy Return
Подайте заявку на возврат средств, если ваш заказ не был отправлен, утерян или были выявлены проблемы с поступившим товаром. Кроме того, для дефектных товаров доступен бесплатный местный возврат
Alibaba.com защищает все ваши заказы, размещенные и оплаченные на платформе, с помощью
Получайте поддержку
Торговая гарантия
Искать поставщиков на Alibaba.com
Продавайте на Alibaba.com
浙公网安备 33010002000092号
浙ICP备2024067534号-3